Addressing Silent Data Corruption (SDC) with In-System Embedded Deterministic Testing
利用系统内嵌入式确定性测试解决静默数据损坏（SDC）问题
➀ 静默数据损坏（SDC）是AI数据中心面临的关键问题，由硬件缺陷导致且难以被检测，进而引发计算错误；
➁ 博通（Broadcom）与西门子EDA在台积电OIP 2025活动上展示了一种联合解决方案，通过系统内嵌入式确定性测试来检测和定位故障；
➂ 该方法通过在操作系统环境中直接提供确定性测试能力，提升了高性能计算（HPC）的系统可靠性。