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➀ Teradyne因推动多芯片测试方案及CoWoS先进封装技术,获台积电2025年OIP 3DFabric测试领域年度合作伙伴奖;

➁ 创新性的UCIe互连标准与流式扫描测试技术,使3D IC在晶圆级测试阶段即可实现高带宽缺陷检测,降低AI数据中心芯片质量成本;

➂ 台积电3DFabric Alliance通过整合EDA/IP/测试生态,为A16/N2等先进制程的异构集成设计建立标准化测试框架。

3D ICTSMCTeradyne

➀ Teradyne因推动多芯片测试方案及CoWoS先进封装技术,获台积电2025年OIP 3DFabric测试领域年度合作伙伴奖;

➁ 创新性的UCIe互连标准与流式扫描测试技术,使3D IC在晶圆级测试阶段即可实现高带宽缺陷检测,降低AI数据中心芯片质量成本;

➂ 台积电3DFabric Alliance通过整合EDA/IP/测试生态,为A16/N2等先进制程的异构集成设计建立标准化测试框架。

TeradyneTSMC3D IC