CMOS 2.0 is Advancing Semiconductor Scaling
CMOS 2.0推动半导体微缩技术发展
① 比利时微电子研究中心(imec)通过晶圆混合键合(250nm间距)和背面供电网络(BSPDN),实现逻辑/存储单元的异质三维堆叠;
② 采用120nm间距纳米硅穿孔(TDV)和超薄晶圆减薄技术,将移动SoC的IR压降降低122mV,优化供电效率;
③ 系统-技术协同优化(STCO)策略,支持功能层专业化分工,在2nm节点实现22%面积节省,突破传统摩尔定律限制。
CMOS 2.0 is Advancing Semiconductor Scaling
① 比利时微电子研究中心(imec)通过晶圆混合键合(250nm间距)和背面供电网络(BSPDN),实现逻辑/存储单元的异质三维堆叠;
② 采用120nm间距纳米硅穿孔(TDV)和超薄晶圆减薄技术,将移动SoC的IR压降降低122mV,优化供电效率;
③ 系统-技术协同优化(STCO)策略,支持功能层专业化分工,在2nm节点实现22%面积节省,突破传统摩尔定律限制。
CMOS 2.0 is Advancing Semiconductor Scaling
① 比利时微电子研究中心(imec)通过晶圆混合键合(250nm间距)和背面供电网络(BSPDN),实现逻辑/存储单元的异质三维堆叠;
② 采用120nm间距纳米硅穿孔(TDV)和超薄晶圆减薄技术,将移动SoC的IR压降降低122mV,优化供电效率;
③ 系统-技术协同优化(STCO)策略,支持功能层专业化分工,在2nm节点实现22%面积节省,突破传统摩尔定律限制。