➀ 西门子数字化工业软件推出Tessent AnalogTest,通过自动生成数字测试模式和低影响可测试性设计(DFT)电路,将模拟电路测试时间从数月缩短至数天;
➁ 该方案采用成本更低的数字自动测试设备(ATE)替代混合信号测试仪,可在数小时内实现>90%的缺陷覆盖率验证,并支持IEEE P2427/P1687.2标准及ISO 26262功能安全指标;
➂ 目前已有早期合作伙伴使用该软件,预计2025年12月全面上市,测试速度相比传统方法提升最高达100倍,显著缩短产品上市周期。
➀ 西门子数字化工业软件推出Tessent AnalogTest,通过自动生成数字测试模式和低影响可测试性设计(DFT)电路,将模拟电路测试时间从数月缩短至数天;
➁ 该方案采用成本更低的数字自动测试设备(ATE)替代混合信号测试仪,可在数小时内实现>90%的缺陷覆盖率验证,并支持IEEE P2427/P1687.2标准及ISO 26262功能安全指标;
➂ 目前已有早期合作伙伴使用该软件,预计2025年12月全面上市,测试速度相比传统方法提升最高达100倍,显著缩短产品上市周期。